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差式扫描量热仪
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差式扫描量热仪
发布时间:2022/12/17 浏览量2

  产品名:差式扫描量热仪
  简 介:DTA差热分析仪
  DTA:差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:氧化诱导期,相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
  DTADZ3320A
  温度范围室温~1150℃   
  量程范围0~±2000μV
  DTA精度±0.1μV
  升温速率1~60℃/min
  温度分辨率0.1℃
  温度准确度±0.1℃
  温度重复性±0.1℃
  温度控制 升温:程序控制        可根据需要进行参数的调整
  降温:风冷 程序控制   可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
  恒温:程序控制        恒温时间任意设定
  炉体结构 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
  气氛控制 内含 气体流量计,气氛转换装置
  数据接口 USB接口通讯     配套数据线和操作软件
  主机显示 汉字大屏  彩色液晶显示  触摸屏
  参数标准 配有标准物:用户可自行对温度进行校正  有一键校准功能
  基线调整  :用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
  工作电源 AC 220V   50Hz

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